WAT测试最常见的解决方案：Prober + Hinge + WAT测试机
The most common solution for WAT test: Prober + Hinge + WAT Tester
上面图片从左至右分别是: 工作状态，中间翻转状态及服务状态。
The above picture shows, from left to right, the working state, intermediate flip state and service state respectively.
Hinge转轴带着抱臂和测试机进行反转，抱臂的远端有配套气动限位锁的组件，中间是测试机定位及位置感应的卡托。
The Hinge rotating shaft flips together with the holding arm system and the tester. The component with a matching pneumatic limit lock at the distal end of the arm‑holding structure, and a card holder for tester positioning and position sensing is located in the middle.
卡探可以提供：Hinge(带气动限位组件) + 抱臂+ 卡托
KATAN can offer:Hinge (with pneumatic limit assembly) + Holding Arm system + card holder
半导体测试-晶圆验收测试(WAT)WAT测试最常见的解决方案：Prober + ...
卡探半导体科技（上海）有限公司从2020年6月创立伊始，深耕于半导体芯片测试行业...
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